Gamintojo produkto numeris:
SN74ABT18652PM
Product Overview
Gamintojas:
Texas Instruments
Detalių numeris:
SN74ABT18652PM-DG
Aprašymas:
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
Išsami aprašymas:
Scan Test Device With Transceivers And Registers IC 64-LQFP (10x10)
Inventorius:
1545477
Prašyti pasiūlymo
Kiekis
Minimali 1
Minimali 1
(*) yra privaloma
Atsakysime per 24 valandas
Atsakysime per 24 valandas
PATEIKTI
SN74ABT18652PM Techninės specifikacijos
Kategorija
Loginiai, Specializuota logika
Gamintojas
Texas Instruments
Pakuotė
Tray
Serijos
74ABT
Produkto būsena
Active
Logikos tipas
Scan Test Device With Transceivers And Registers
Maitinimas
4.5V ~ 5.5V
Bitų skaičius
18
Darbinė temperatūra
-40°C ~ 85°C
Montavimo tipas
Surface Mount
Pakuotė / dėklas
64-LQFP
Tiekėjo įrenginių paketas
64-LQFP (10x10)
Pagrindinio produkto numeris
74ABT18652
Duomenų lapas ir dokumentai
Duomenų lapai
Papildoma informacija
Kiti pavadinimai
-SN74ABT18652PMG4-NDR
296-3944
TEXTISSN74ABT18652PM
296-3944-NDR
-SN74ABT18652PM-NDR
-296-3944-DG
-296-3944-NDR
-SN74ABT18652PMG4
2156-SN74ABT18652PM
-296-3944
SN74ABT18652PMG4
SN74ABT18652PMG4-DG
Standartinis paketas
160
Aplinkosaugos ir eksporto klasifikacija
RoHS būsena
ROHS3 Compliant
Jautrumo drėgmei lygis (MSL)
3 (168 Hours)
REACH statusas
REACH Unaffected
EKSSN
EAR99
HTSUS
8542.39.0001
DIGI Sertifikavimas
Susiję produktai
SN74GTLP2034DGGR
IC REG TXRX LVTTL-GTLP 48-TSSOP
SN74FB2041ARCG3
IC TXRX 7BIT TTL/BTL 52-QFP
SN74BCT8374ADWR
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
