Gamintojo produkto numeris:
SN74ABTH182652APM
Product Overview
Gamintojas:
Texas Instruments
Detalių numeris:
SN74ABTH182652APM-DG
Aprašymas:
IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 64LQFP
Išsami aprašymas:
Scan Test Device With Transceivers And Registers IC 64-LQFP (10x10)
Inventorius:
1740170
Prašyti pasiūlymo
Kiekis
Minimali 1
Minimali 1
(*) yra privaloma
Atsakysime per 24 valandas
Atsakysime per 24 valandas
PATEIKTI
SN74ABTH182652APM Techninės specifikacijos
Kategorija
Loginiai, Specializuota logika
Gamintojas
Texas Instruments
Pakuotė
Tray
Serijos
74ABTH
Produkto būsena
Active
Logikos tipas
Scan Test Device With Transceivers And Registers
Maitinimas
4.5V ~ 5.5V
Bitų skaičius
18
Darbinė temperatūra
-40°C ~ 85°C
Montavimo tipas
Surface Mount
Pakuotė / dėklas
64-LQFP
Tiekėjo įrenginių paketas
64-LQFP (10x10)
Pagrindinio produkto numeris
74ABTH182652
Duomenų lapas ir dokumentai
Duomenų lapai
Papildoma informacija
Kiti pavadinimai
74ABTH182652APMG4
TEXTISSN74ABTH182652APM
2156-SN74ABTH182652APM
74ABTH182652APMG4-DG
Standartinis paketas
160
Aplinkosaugos ir eksporto klasifikacija
RoHS būsena
ROHS3 Compliant
Jautrumo drėgmei lygis (MSL)
3 (168 Hours)
REACH statusas
REACH Unaffected
EKSSN
EAR99
HTSUS
8542.39.0001
DIGI Sertifikavimas
Susiję produktai
SN74TVC3010DWR
IC 10BIT VOLTAGE CLAMP 24-SOIC
SN74LVCE161284DGGR
IC IEEE STD 1284 TXRX 48-TSSOP
SN74TVC3306DCTRE4
IC DUAL VOLTAGE CLAMP 8-SM8
