Gamintojo produkto numeris:
SN74LVTH18646APM
Product Overview
Gamintojas:
Texas Instruments
Detalių numeris:
SN74LVTH18646APM-DG
Aprašymas:
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
Išsami aprašymas:
ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers IC 64-LQFP (10x10)
Inventorius:
305 Vnt Naujas Originalus Sandėlyje
1862955
Prašyti pasiūlymo
Kiekis
Minimali 1
Minimali 1
(*) yra privaloma
Atsakysime per 24 valandas
Atsakysime per 24 valandas
PATEIKTI
SN74LVTH18646APM Techninės specifikacijos
Kategorija
Loginiai, Specializuota logika
Gamintojas
Texas Instruments
Pakuotė
Tray
Serijos
74LVTH
Produkto būsena
Active
Logikos tipas
ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers
Maitinimas
2.7V ~ 3.6V
Bitų skaičius
18
Darbinė temperatūra
-40°C ~ 85°C
Montavimo tipas
Surface Mount
Pakuotė / dėklas
64-LQFP
Tiekėjo įrenginių paketas
64-LQFP (10x10)
Pagrindinio produkto numeris
74LVTH18646
Duomenų lapas ir dokumentai
Duomenų lapai
Papildoma informacija
Kiti pavadinimai
-296-8703-DG
-296-8703
-SN74LVTH18646APMG4
2156-SN74LVTH18646APM
296-8703-NDR
-SN74LVTH18646APM-NDR
296-8703
SN74LVTH18646APMG4
SN74LVTH18646APMG4-DG
TEXTISSN74LVTH18646APM
-296-8703-NDR
-SN74LVTH18646APMG4-NDR
Standartinis paketas
160
Aplinkosaugos ir eksporto klasifikacija
RoHS būsena
ROHS3 Compliant
Jautrumo drėgmei lygis (MSL)
3 (168 Hours)
REACH statusas
REACH Unaffected
EKSSN
EAR99
HTSUS
8542.39.0001
DIGI Sertifikavimas
Susiję produktai
SN74LVTH18646APMG4
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
SN74TVC3010DBQR
IC PROG V CLAMP 24-QSOP
V62/04730-01XE
ENHANCED PRODUCT 3.3-V ABT SCAN